美国StellarNet光纤光谱仪薄膜测试系统提供完整的一套膜厚测试系统,可以对单层或多层的5nm-200um的快速测试。这套系统包含便携式光纤光谱仪,反射式探针和光源。通过样品正面反射的正弦条纹图得到反射和膜厚的光学特...
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